新聞訊息 
蔚思博检测将于2021年12月22日-23日参加ICCAD 2021“中国集成电路设计业2021年会暨无锡集成电路产业创新发展高峰论坛”。本次展会将带来领先业界之【动态失效分析服务】、【AI/ASIC/GPU/CPU超高功耗老化实验平台】与【Driver IC 老化试验平台】等蔚思博特有服务，欢迎踊跃前往与我们进行交流。
展会时间：2021/12/22-23
展会地点：无锡太湖国际博览中心
展位號：255-256
演讲时间：12/23 周四 11:20-11:40 一楼兰花厅A
演讲主题：奈米探针在芯片电性上的应用--陈志荣博士