邁向車用晶元領航者研討會@上海

邁向車用晶元領航者研討會，圓滿落幕！本次會議邀請VESP三位行業大咖，從可靠性驗證的探討到不可或缺的失效分析議題，最後是關於進階設計的車用功能安全，三位講師帶來滿滿知識與實務經驗，分享給在場所有集成電路產業精英！蔚思博期望扮演客戶成為晶元領航者的重要夥伴，感謝各位朋友前來，帶您直擊會議現場!

蔚思博檢測開場致辭 陳偉正副總

車規晶元可靠性驗證之趨勢與挑戰 黃智偉經理

失效分析面對集成電路的挑戰 陳志榮博士

安全的關鍵技術設計與手法 吳世芳總監

感謝大家熱情的參與並與講師互動
希望這次的研討會能帶給大家不同的收獲
蔚思博檢測研討會尚有兩場
請把握機會報名！

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