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活動訊息

車規晶元EMC與失效分析實務研討會於上海IC咖啡成功舉辦

2021-05-21

 

 

5月13日,半導體第三方檢測專家【蔚思博檢測】攜手上海檀桐檢測實驗室及上海IC咖啡聯合舉辦的【車規晶元EMC與失效分析實務研討會】在上海張江成功舉辦。

本次會議題圍繞目前汽車整機廠對於晶元的驗證分析要求,並分享交流實務上的驗證經驗。會議迎來上海市數十位集成電路產業菁英,現場高朋滿座座無虛席,顯現對於進入車規晶元市場是眾所註目的議題。

 

 

車用IC EMC驗證方案解析
檀桐檢測 鄧勇顧問
 

第一個議題由蔚思博檢測合作夥伴,上海檀桐檢測車用系統模塊EMC實驗室鄧勇顧問分享【車用IC EMC驗證方案解析】首先介紹車用IC EMC測試方法,分別解說集成電路EMC發射測試、集成電路電磁抗擾測試、集成電路脈沖抗擾測試等測試方式,再進一步延伸針對不同類的測試,所產生的測試要求及測試板設計,使現場聽眾對車用IC EMC驗證有更深度的瞭解。

 

晶元功能安全上的FMEA應用
蔚思博檢測 吳世芳總監
 

蔚思博檢測功能安全專家吳世芳總監,接著分享【晶元功能安全上的FMEA應用】產業與輔導經驗豐厚的吳總監,首先讓大家瞭解FMEA的是什麼,以及其分析方式,並解讀新舊版之差異,再給予車規晶元設計上要如何應用等實務信息,深入淺出的實質內容,獲得在聽眾高度的關注。

 

車規晶元失效分析驗證技術
蔚思博檢測 陳志榮博士
 

 

最後由蔚思博檢測失效分析專家陳志榮博士帶來【車規晶元失效分析驗證技術】,陳博士提到近十年半導體產封裝技術的演進,先進封裝失效面臨更大的挑戰,失效分析則扮演更重要的角色。進一步以實務案例介紹,各類封裝形式的失效模式及對應方式。更針對車規晶元產品做出失效解決方案,其中蔚思博檢測獨有的動態失效分析服務,是更能協助晶元設計者分析晶元失效的高效分析方式。廣而深入的失效分析專業信息,亦獲得不少好評。

 
會議精華
抽獎+Q&A
 
 
 
                           
                                                            
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感謝上海的集成電路產業精英積極參與使本次會議圓滿成功,蔚思博檢測將致力提供更專精的晶元驗證解決方案,期待未來與產業先進有更深的合作與交流。

 

 

   蔚思博檢測技術(合肥)有限公司為蔚華集團旗下之半導體電子產品第三方獨立驗證實驗室,立足於兩岸晶元驗證領域,致力於提供全方位的工程驗證與質量檢測解決方案。包含可靠性驗證(RA)、靜電防護能力檢測(ESD/LU)、失效分析(FA) 、動態電性失效分析(Dynamic EFA)與IC電路修補(FIB Circuit edit )等驗證服務,以及車用電子功能安全輔導服務(ISO 26262 functional safety consulting)。

     蔚思博檢測總部位於合肥高新區明珠產業園區,總面積達三千平米,設置全方位晶元檢測能力且具備獨家的Driver IC可靠性驗證與SWAP服務能量。專為半導體產業上下游設計打造,提供先進檢測服務硬體設計與技術咨詢/培訓。

 

 


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