邁向車用晶元領航者研討會@上海
邁向車用晶元領航者研討會，稍早圓滿落幕
感謝各位朋友前來，帶您直擊會議現場
蔚思博檢測開場致辭 陳偉正副總
車規晶元可靠性驗證之趨勢與挑戰 黃智偉經理
失效分析面對集成電路的挑戰 陳志榮博士
安全的關鍵技術設計與手法 吳世芳總監
感謝大家熱情的參與並與講師互動 希望這次的研討會能帶給大家不同的收獲 蔚思博檢測研討會尚有兩場 請把握機會報名！
活動訊息 
