semiconductor verification
半導體驗證分析服務
 首頁 / 半導體驗證分析服務 / 故障分析 / 電性故障分析EFA / 熱點偵測-砷化鎵銦微光顯微鏡 (InGaAs)

熱點偵測-砷化鎵銦微光顯微鏡 (InGaAs)

熱點偵測-砷化鎵銦微光顯微鏡 (InGaAs)

  砷化鎵銦微光顯微鏡(InGaAs) 其原理是偵測電子-電洞結合與熱載子所激發出的光子,與過往的微光顯微鏡(EMMI)原理相同,世代演進後使用新的偵測器材料(InGaAs),讓可偵測波長範圍和所激發出光子的波長範圍更為相配,且與目前主流的背向(透過Si)偵測方式所處波長範圍更匹配,因此砷化鎵銦微光顯微鏡(InGaAs)可大大提高偵測效能。

應用場景

  • Silicon base操作
  • 低電流異常的失效偵測

設備能量

照片拼接功能


技術諮詢窗口

TEL:03-6669700 ext. 6272,6274

Mail:fa_tw@vesp-tech.com


TOP
諮詢信箱
您好,若您對我們有任何疑問或建議,歡迎您撥打+886-3-666-9700 #9 或至以下表單留言我們將盡速回覆您,謝謝!
* 公司名稱
* 電話
*E-mail
諮詢項目(可複選)
其它Others
*訊息
*驗證碼