熱點偵測-砷化鎵銦微光顯微鏡 (InGaAs)
砷化鎵銦微光顯微鏡(InGaAs) 其原理是偵測電子-電洞結合與熱載子所激發出的光子,與過往的微光顯微鏡(EMMI)原理相同,世代演進後使用新的偵測器材料(InGaAs),讓可偵測波長範圍和所激發出光子的波長範圍更為相配,且與目前主流的背向(透過Si)偵測方式所處波長範圍更匹配,因此砷化鎵銦微光顯微鏡(InGaAs)可大大提高偵測效能。
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