課程特色

IC設計階段利用IEC 62380提供的計算模型進行失效率估計，此計算模型直接考慮熱循環效應以及IC可能經歷的任務概況，取代單一條件的環境因素做為評估的基準。計算模型同時考慮到工作時間區間效應，譬如不關機的永久工作、On/Off 循環和不工作下的各種應用狀況。失效率評估結果可作為產品可靠度發展的參考，也可作為近期熱議的功能安全硬件指標目標評估的基礎，以滿足ISO26262 不同等級的ASIL下的SPFM、LFM及PMHF指標的功能安全設計目標。

課程大綱

IEC62380可靠性的簡介

電子元件與電路板失效率資料來源

失效率的本質與影響因素

環境對可靠性的影響 :機械,氣候與電器條件的影響

可靠性預測的結果與用途和目的

任務概況介紹 :可靠性計算必須根據其現場使用條件進行

積體電路考慮

功率半導體元件的失效率計算

半導體元件失效率評估

實例演練

報名咨詢：sales_tw@vesp-tech.com

課程詳情：https://edu.tcfst.org.tw/web/tw/class/show.asp?tcfst=yes&courseidori=09C364