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解密高階IC驗證分析及關鍵技術研討會在合肥成功舉辦

2021-05-04

由華證科技、國家芯火雙創平臺及合肥市半導體行業協會聯合舉辦的【解密高接晶元驗證分析及關鍵技術研討會】今日(4/28)在合肥高新區成功舉辦。蔚思博檢測技術(合肥)有限公司總經理 林正德先生及市場營銷副總 陳偉正先生共同參與了本次會議。

隨著未來高階晶元的需求逐步強勁,如何在最短時間內實現產品創新,晶元驗證是不可或缺且至關重要的一環。本次【解密高階晶元驗證分析及關鍵技術研討會】會議目的即是希望帶給合肥集成電路產業人員,高階晶元的驗證分析實務內容,並進行深度交流。

蔚思博檢測技術
林正德 總經理致詞
 
 

林正德總經理首先感謝國家芯火平臺合肥基地 吳秀龍副主任,促成本次會議合作;合肥國家芯火雙創平臺 朱志國副主任,協助將本次會議傳達給合肥的集成電路產業精英們。本次會議是蔚思博檢測與合肥市半導體行業協會的第三次合作。在集成電路產業技術的高速發展下,蔚思博檢測不僅會在驗證技術上的精進,更樂意能與產業內的先進進行交流,共同致力提升合肥集成電路產業發展態勢。

失效分析服務所提供的應用領域
陳志榮 博士
 
 

蔚思博檢測工程處協理 陳志榮博士以【失效分析服務所提供的應用領域】為主題針對高階晶元的驗證分析做探討。陳博士首先提到近十年半導體產業應用需求的發展,晶元的類型發生了很大的變化高附加價值,且復雜結構的邏輯晶元產品的比重越來越大,同時失效分析的方式也更多樣化。進一步分享了失效分析在集成電路產業的重要性,並對應到高階晶元的發展趨勢,將失效分析服務可提供的應用領域做細致深度的分享。

芯片半導體驗證測試之應用
黃智偉 資深經理
 
 

 

蔚思博檢測工程一處 黃智偉資深經理以【晶元半導體驗證測試之應用】為主題針對高階晶元的驗證分析做探討。首先解析面對高階晶元在可靠度驗證上的應用趨勢。再以半導體晶元的測試驗證標準JEDEC做進一步的可靠性驗證探討。最後聚焦討論車用晶元半導體的驗證要求AEC-Q,並給予大量的實務驗證經驗分享,給與本會聽眾扎實的專業信息。

 

會議精華
抽獎與Q&A交流
 
 
 
       
                      
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感謝合肥的集成電路產業精英積極參與使本次會議圓滿成功,蔚思博檢測將致力提供更專精的晶元驗證解決方案,期待未來與產業先進有更深的合作與交流。

 

●VESP TECH●
 
 

 

    蔚思博檢測技術(合肥)有限公司為蔚華集團旗下之半導體電子產品第三方獨立驗證實驗室,立足於兩岸晶元驗證領域,致力於提供全方位的工程驗證與質量檢測解決方案。包含可靠性驗證(RA)、靜電防護能力檢測(ESD/LU)、失效分析(FA) 、動態電性失效分析(Dynamic EFA)與IC電路修補(FIB Circuit edit )等驗證服務,以及車用電子功能安全輔導服務(ISO 26262 functional safety consulting)。

     蔚思博檢測總部位於合肥高新區明珠產業園區,總面積達三千平米,設置全方位晶元檢測能力且具備獨家的Driver IC可靠性驗證與SWAP服務能量。專為半導體產業上下游設計打造,提供先進檢測服務硬體設計與技術咨詢/培訓。

 


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