蔚思博檢測(華證科技)將於2021年7月15日-16日參加ICDIA 2021“中國積體電路設計創新大會暨 IC 應用博覽會”。本次展會特邀蔚思博檢測鄭宜明工程副總親臨現場,在展會中帶來領先業界之【動態失效分析服務】與【AI/ASIC/GPU/CPU超高功耗老化實驗平臺】等蔚思博特有服務,歡迎踴躍前往與我們的專家進行交流。
展會時間:2021/7/15-16
展會地點:蘇州獅山國際會議中心
展商:蔚思博檢測技術(合肥)有限公司 VESP Technology Corp.
展位號:034
展會期間來到34展位,進行簽到可參加抽將
本次展會禮品有別以往最豐富,數量有限!
關於蔚思博檢測
蔚思博檢測技術(合肥)有限公司(華證科技)為蔚華集團旗下之半導體電子產品協力廠商獨立驗證實驗室,致力於提供全方位的工程驗證與品質檢測解決方案。包含可靠性驗證(RA)、靜電防護能力檢測(ESD/LU)、失效分析(FA) 、動態電性失效分析(Dynamic EFA)與IC電路修補(FIB Circuit edit )等驗證服務,以及車用電子功能安全輔導服務。
蔚思博檢測總部位(華證科技)於合肥高新區明珠產業園區,總面積達三千平米,設置全方位晶片檢測能力且具備獨家的Driver IC可靠性檢測與SWAP服務能量。專為半導體產業上下游設計打造,提供先進檢測服務硬體設計與技術諮詢/培訓。